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研究開発報告書類（JAEA-Research等）学会誌等掲載論文口頭発表特許

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論文

Absolute calibration of a normal incidence vacuum spectrometer using synchrotron radiation

久保博孝; 逆井章; 西野信博*; 小出芳彦; 赤岡伸雄*; 原誠*; 千葉真一; 杉江達夫; 竹内浩; 田中健一郎*; et al.

Japanese Journal of Applied Physics, 28(12), p.2610 - 2614, 1989/12

https://doi.org/10.1143/JJAP.28.2610

被引用回数：2 パーセンタイル：17.22(Physics, Applied)

直入射分光器の絶対感度校正をフォトン・ファクトリのシンクロトロン放射を用いて、350~1250A゜の波長範囲で行なった。